測(cè)試系統(tǒng)
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產(chǎn)品名稱: 測(cè)試系統(tǒng)
產(chǎn)品型號(hào): 58173
產(chǎn)品展商: Chroma
產(chǎn)品文檔: 無相關(guān)文檔
簡(jiǎn)單介紹
Chroma 58173 是一組全新獨(dú)特的量測(cè) LED 全光 通量之自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)。在LED的裸晶與晶粒測(cè) 試生產(chǎn)線中，常見使用部份光通量來取代全光通 量之量測(cè)方式 (見圖1)。
測(cè)試系統(tǒng)
的詳細(xì)介紹
測(cè)試系統(tǒng)主要特色：
- 提供全方位電性測(cè)試 (200V/2A) ，可滿足HV及HP測(cè)試
- Chroma大面積光偵測(cè)器(量測(cè)角度可達(dá)128度)
- 半自動(dòng)精密LED wafer/chip點(diǎn)測(cè)設(shè)備
- 特制Edge Sensor具有點(diǎn)測(cè)針壓穩(wěn)定，無疲乏與針壓變動(dòng)問題
- 機(jī)械視覺定位系統(tǒng)，縮短人工操作時(shí)間
- 自動(dòng)抽測(cè)功能
- 彈性調(diào)整的軟體操作界面
- 快速芯片掃描系統(tǒng)
- 自動(dòng)破片掃描演算法
- 遮光罩設(shè)計(jì)，杜絕背景光干擾
- 即時(shí)顯示點(diǎn)測(cè)資料分布圖
- 完善的量產(chǎn)測(cè)試統(tǒng)計(jì)報(bào)表及分析工具
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硬體設(shè)備
- 半自動(dòng) LED wafer/chip 點(diǎn)測(cè)設(shè)備
- 漏電流測(cè)試模組
- 電源量測(cè)單元
- 光學(xué)測(cè)試模組
- ESD 測(cè)試模組 (選配)
Chroma 58173 是一組全新獨(dú)特的量測(cè) LED 全光 通量之自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)。在LED的裸晶與晶粒測(cè) 試生產(chǎn)線中，常見使用部份光通量來取代全光通 量之量測(cè)方式 (見圖1)。然而，傳統(tǒng)的方式存在 一些缺點(diǎn)，例如：準(zhǔn)確度較低、訊噪比較低、測(cè) 試時(shí)間較長(zhǎng)等，以致于導(dǎo)入LED 的裸晶與晶粒生 產(chǎn)線時(shí)會(huì)發(fā)生問題。
致茂研發(fā)出一種全新、高速且高**度之 LED 全光通量之量測(cè)方式(見圖2)。 這種**的量測(cè) 方式不僅比傳統(tǒng)方式收集更多的 LED 部分光通 量，也明顯的改善提升了量測(cè)**度。
在光學(xué)量測(cè)方面，主波長(zhǎng)、峰波長(zhǎng)、色溫等均可 透過致茂獨(dú)特的光學(xué)設(shè)計(jì)與元件取得**且穩(wěn)定 快速之?dāng)?shù)據(jù)；在機(jī)構(gòu)方面，58173 搭載一個(gè)6吋 的晶片載盤與校正基座，提供使用者一個(gè)完整 的校正與測(cè)試平臺(tái)；在電性測(cè)試方面，58173 則 具備完整之電源量測(cè)單元，無論順向電壓、漏電 流、逆向崩潰電壓等 LED 電性特性，均可于一 次滿足使用者的測(cè)試需求。
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